Data di Pubblicazione:
1999
Abstract:
The NA48 experiment at CERN has performed a new measurement of direct CP violation, based on data taken in 1997 by simultaneously collecting K-L and K-S decays into pi(0)pi(0) and pi(+)pi(-). The result for the CP violating parameter Re(epsilon'/epsilon) is (18.5 +/- 4.5(stat) +/- 5.8(syst)) X 10(-4). (C) 1999 Elsevier Science B.V. All rights reserved.
Tipologia CRIS:
03A-Articolo su Rivista
Keywords:
NA48 EXPERIMENT; CERN; EPSILON'/EPSILON; CRYSTAL
Elenco autori:
V. Fanti;A. Lai;D. Marras;L. Musa;A. J. Bevan;T. J. Gershon;B. Hay;R. W. Moore;K. N. Moore;D. J. Munday;M. D. Needham;M. A. Parker;S. F. Takach;T. O. White;S. A. Wotton;G. Barr;H. Blumer;G. Bocquet;J. Bremer;A. Ceccucci;J. Cogan;D. Cundy;N. Doble;W. Funk;L. Gatignon;A. Gianoli;A. Gonidec;G. Govi;P. Grafstrom;G. Kesseler;W. Kubischta;A. Lacourt;S. Luitz;J. P. Matheys;A. Norton;S. Palestini;B. Panzer-Steindel;B. Peyaud;D. Schinzel;H. Taureg;M. Velasco;O. Vossnack;H. Wahl;G. Wirrer;A. Gaponenko;V. Kekelidze;D. Madigojine;A. Mestvirishvili;Y. Potrebenikov;G. Tatishvili;A. Tkatchev;A. Zinchenko;L. Bertolotto;O. Boyle;I. G. Knowles;V. J. Martin;H. L. C.;K. J. Peach;C. Talamonti;M. Contalbrigo;P. Dalpiaz;J. Duclos;A. Formica;P. L. Frabetti;M. Martini;F. Petrucci;M. Savrie;A. Bizzeti;M. Calvetti;G. Collazuol;G. Graziani;E. Iacopini;M. Lenti;A. Michetti;H. G. Becker;P. Buchholz;D. Coward;C. Ebersberger;H. Fox;A. Kalter;K. Kleinknecht;U. Koch;L. Kopke;B. Renk;J. Scheidt;J. Schmidt;V. Schonharting;Y. Schue;R. Wilhelm;M. Wittgen;J. C. Chollet;S. Crepe;L. Fayard;L. Iconomidou-Fayard;J. Ocariz;G. Unal;D. Vattolo;I. Wingerter-Seez;G. Anzivino;F. Bordacchini;P. Cenci;P. Lubrano;A. Nappi;M. Pepe;M. Punturo;L. Bertanza;A. Bigi;P. Calafiura;R. Carosi;R. Casali;C. Cerri;M. Cirilli;F. Costantini;R. Fantechi;S. Giudici;B. Gorini;I. Manelli;V. Marzulli;G. Pierazzini;F. Raffaelli;M. Sozzi;J. B. Cheze;M. D. Beer;P. Debu;R. G. de;P. Hristov;E. Mazzucato;S. Schanne;R. Turlay;B. Vallage;I. Augustin;M. Bender;M. Holder;M. Ziolkowski;R. Arcidiacono;C. Biino;R. Cester;F. Marchetto;E. Menichetti;N. Pastrone;J. Nassalski;E. Rondio;M. Szleper;W. Wislicki;S. Wronka;H. Dibon;G. Fischer;M. Jeitler;M. Markytan;I. Mikulec;G. Neuhofer;M. Pernicka;A. Taurok
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