Study of the uniformity of high resistivity neutron doped silicon wafers for silicon drift detectors
Articolo
Data di Pubblicazione:
2001
Tipologia CRIS:
03A-Articolo su Rivista
Elenco autori:
S. BEOLE'; V. BONVICINI; P. BURGER; G. CASSE; P. GIUBELLINO; M. IDZIK; A. KOLOZHVARI; A. RASHEVSKY; L. RICCATI; A. VACCHI; N. ZAMPA
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