The Physics of the B Factories

Bevan, A.J; Golob, B.; Mannel, Th.; Prell, S.; Yabsley, B.D.; Aihara, H.; Anulli, F.; Arnaud, N.; Aushev, T.; Beneke, M.; Beringer, J.; Bianchi, F.; Bigi, I.I.; Bona, M.; Brambilla, N.; Brodzicka, J.; Chang, P.; Charles, M.J.; Cheng, C.H.; Cheng, H.-Y.; Chistov, R.; Colangelo, P.; Coleman, J.P.; Drutskoy, A.; Druzhinin, V.P.; Eidelman, S.; Eigen, G.; Eisner, A.M.; Faccini, R.; Flood, K.T.; Gambino, P.; Gaz, A.; Gradl, W.; Hayashii, H.; Higuchi, T.; Hulsbergen, W.D.; Hurth, T.; Iijima, T.; Itoh, R.; Jackson, P.D.; Kass, R.; Kolomensky, Yu. G.; Kou, E.; Križan, P.; Kronfeld, A.; Kumano, S.; Kwon, Y.J.; Latham, T.E.; Leith, D.W.G.S.; Lüth, V.; Martinez-Vidal, F.; Meadows, B.T.; Mussa, R.; Nakao, M.; Nishida, S.; Ocariz, J.; Olsen, S.L.; Pakhlov, P.; Pakhlova, G.; Palano, A.; Pich, A.; Playfer, S.; Poluektov, A.; Porter, F.C.; Robertson, S.H.; Roney, J.M.; Roodman, A.; Sakai, Y.; Schwanda, C.; Schwartz, A.J.; Seidl, R.; Sekula, S.J.; Steinhauser, M.; Sumisawa, K.; Swanson, E.S.; Tackmann, F.; Trabelsi, K.; Uehara, S.; Uno, S.; van de Water, R.; Vasseur, G.; Verkerke, W.; Waldi, R.; Wang, M.Z.; Wilson, F.F.; Zupan, J.; Zupanc, A.; Adachi, I.; Albert, J.; Banerjee, Sw.; Bellis, M.; Ben-Haim, E.; Biassoni, P.; Cahn, R.N.; Cartaro, C.; Chauveau, J.; Chen, C.; Chiang, C.C.; Cowan, R.; Dalseno, J.; Davier, M.; Davies, C.; Dingfelder, J.C.; Echenard, B.; Epifanov, D.; Fulsom, B.G.; Gabareen, A.M.; Gary, J.W.; Godang, R.; Graham, M.T.; Hafner, A.; Hamilton, B.; Hartmann, T.; Hayasaka, K.; Hearty, C.; Iwasaki, Y.; Khodjamirian, A.; Kusaka, A.; Kuzmin, A.; Lafferty, G.D.; Lazzaro, A.; Li, J.; Lindemann, D.; Long, O.; Lusiani, A.; Marchiori, G.; Martinelli, M.; Miyabayashi, K.; Mizuk, R.; Mohanty, G.B.; Muller, D.R.; Nakazawa, H.; Ongmongkolkul, P.; Pacetti, S.; Palombo, F.; Pedlar, T.K.; Piilonen, L.E.; Pilloni, A.; Poireau, V.; Prothmann, K.; Pulliam, T.; Rama, M.; Ratcliff, B.N.; Roudeau, P.; Schrenk, S.; Schroeder, T.; Schubert, K.R.; Shen, C.P.; Shwartz, B.; Soffer, A.; Solodov, E.P.; Somov, A.; Starič, M.; Stracka, S.; Telnov, A.V.; Todyshev, K. Yu.; Tsuboyama, T.; Uglov, T.; Vinokurova, A.; Walsh, J.J.; Watanabe, Y.; Won, E.; Wormser, G.; Wright, D.H.; Ye, S.; Zhang, C.C.; Abachi, S.; Abashian, A.; Abe, K.; Abe, N.; Abe, R.; Abe, T.; Abrams, G.S.; Adam, I.; Adamczyk, K.; Adametz, A.; Adye, T.; Agarwal, A.; Ahmed, H.; Ahmed, M.; Ahmed, S.; Ahn, B.S.; Ahn, H.S.; Aitchison, I.J.R.; Akai, K.; Akar, S.; Akatsu, M.; Akemoto, M.; Akhmetshin, R.; Akre, R.; Alam, M.S.; Albert, J.N.; Aleksan, R.; Alexander, J.P.; Alimonti, G.; Allen, M.T.; Allison, J.; Allmendinger, T.; Alsmiller, J.R.G.; Altenburg, D.; Alwyn, K.E.; An, Q.; Anderson, J.; Andreassen, R.; Andreotti, D.; Andreotti, M.; Andress, J.C.; Angelini, C.; Anipko, D.; Anjomshoaa, A.; Anthony, P.L.; Antillon, E.A.; Antonioli, E.; Aoki, K.; Arguin, J.F.; Arinstein, K.; Arisaka, K.; Asai, K.; Asai, M.; Asano, Y.; Asgeirsson, D.J.; Asner, D.M.; Aso, T.; Aspinwall, M.L.; Aston, D.; Atmacan, H.; Aubert, B.; Aulchenko, V.; Ayad, R.; Azemoon, T.; Aziz, T.; Azzolini, V.; Azzopardi, D.E.; Baak, M.A.; Back, J.J.; Bagnasco, S.; Bahinipati, S.; Bailey, D.S.; Bailey, S.; Bailly, P.; van Bakel, N.; Bakich, A.M.; Bala, A.; Balagura, V.; Baldini-Ferroli, R.; Ban, Y.; Banas, E.; Band, H.R.; Banerjee, S.; Baracchini, E.; Barate, R.; Barberio, E.; Barbero, M.; Bard, D.J.; Barillari, T.; Barlow, N.R.; Barlow, R.J.; Barrett, M.; Bartel, W.; Bartelt, J.; Bartoldus, R.; Batignani, G.; Battaglia, M.; Bauer, J.M.; Bay, A.; Beaulieu, M.; Bechtle, P.; Beck, T.W.; Becker, J.; Becla, J.; Bedny, I.; Behari, S.; Behera, P.K.; Behn, E.; Behr, L.; Beigbeder, C.; Beiline, D.; Bell, R.; Bellini, F.; Bellodi, G.; Belous, K.; Benayoun, M.; Benelli, G.; Benitez, J.F.; Benkebil, M.; Berger, N.; Bernabeu, J.; Bernard, D.; Bernet, R.; Bernlochner, F.U.; Berryhill, J.W.; Bertsche, K.; Besson, P.; Best, D.S.; Bettarini, S.; Bettoni, D.; Bhardwaj, V.; Bhimji, W.; Bhuyan, B.; Biagini,