Ion backflow in thick GEM-based detectors of single photons

Alexeev, M.; Birsa, R.; Bradamante, F.; Bressan, A.; Chiosso, M.; Ciliberti, P.; Dalla Torre, S; Dasgupta, S.; Denisov, O.; Duic, V.; Finger, M.; M., Finger Jr.; Fischer, H.; Giorgi, M.; Gobbo, B.; Gregori, M.; Herrmann, F.; Königsmann, K.; Levorato, S.; Liu, Q.; Maggiora, A.; Martin, A.; Menon, G.; Nerling, F.; Novakova, K.; Novy, J.; Panzieri, D.; Pereira, F.A.; Santos, C.A.; Sbrizzai, G.; Schiavon, P.; Schill, C.; Schopferer, S.; Slunecka, M.; Sozzi, F.; Steiger, L.; Sulc, M.; Takekawa, S.; Tessarotto, F.; Veloso, J.F.C.A.