Using atomic force microscopy to reveal the nature of extended defects in organic molecular semiconductors: the role of crystal growth mechanisms
Articolo
Data di Pubblicazione:
2007
Tipologia CRIS:
03A-Articolo su Rivista
Elenco autori:
M. Moret; M. Campione; S. Caprioli; L. Raimondo; A. Sassella; S. Tavazzi; D. Aquilano
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